REFRAKTOMETER GIA GEM Duplex II

Professionelles Edelstein-Refraktometer GIA GEM Duplex II.

Messbereich: 1.30 bis 1.80 für lose oder eingefasste Edelsteine.

Edelsteinrefraktometer werden zur Klassifizierung und Qualitätskontrolle von Edelsteinen eingesetzt.
Der zu untersuchende Edelstein wird einfach mit einem Tropfen Kontaktflüssigkeit auf das Prisma gelegt.
Durch das Okular des Refraktometers wird der Brechungs- index des Edelsteines abgelesen. Der Brechungsindex ist eine wichtige Grösse zur Bestimmung eines Minerals oder Edelsteins. Jedes Mineral hat seinen typischen Brechungsindex, bedingt durch die chemische Zusammensetzung und kristalline Struktur.
2x Linse und Polarisierungsfilter.

Beleuchtung erhältlich - separat zu bestellen

inkl. Schutzhülle